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低振動型高分解能原子間力顕微鏡(AFM)システム
In EnglishLow-vibration high-resolution atomic force microscope (AFM) system
国立研究開発法人産業技術総合研究所 · 東京都 千代田区
国立研究開発法人産業技術総合研究所 in Japan is inviting bids for “Low-vibration high-resolution atomic force microscope (AFM) system”. Bids close on 18 November 2026, 17:00 JST.
Key facts
- Published
- 28 Sep 2026